Application de la méthode de rétrodiffusion des électrons à la mesure en continu des faibles épaisseurs de revêtements légers sur métaux ou alliages légersReportar como inadecuado




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1 LPC - Laboratoire de Physique Corpusculaire - Clermont-Ferrand

Résumé : Le problème envisagé concerne la mesure en continu des faibles épaisseurs de revêtements organiques sur métaux ou alliages légers. Nous étudions les caractéristiques d-une jauge à rétrodiffusion β opérant sous atmosphère d-hélium. Nous montrons que le fait de travailler sous hélium améliore les résultats de façon très importante. L-influence de l-énergie de la source radio-active et du numéro atomique du revêtement sont examinés. Les résultats obtenus concernent également la précision, le temps de mesure ainsi que la surface de l-échantillon sous investigation.

Keywords : thickness measurement





Autor: G.R. Roche - J.F. Deveau P.J. Cunat P. Levy J. Boin C. Riss

Fuente: https://hal.archives-ouvertes.fr/



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