ETUDE DES DEFAUTS DANS LES COUCHES HETEROEPITAXIALES DE MATERIAUX I I I-V PAR LANALYSE METALLOGRAPHIQUE SUR BISEAU CHIMIQUEReportar como inadecuado




ETUDE DES DEFAUTS DANS LES COUCHES HETEROEPITAXIALES DE MATERIAUX I I I-V PAR LANALYSE METALLOGRAPHIQUE SUR BISEAU CHIMIQUE - Descarga este documento en PDF. Documentación en PDF para descargar gratis. Disponible también para leer online.



Abstract : The -etch pit- observation technique has been developed for the study of the crystalline perfection of mono and multilayer heterostructure. Before the selective revelation we form a chemical bevel with a very low angle. By this technique we can see if misfit dislocation at the interface are generated or not.





Autor: A. Huber G. Laurencin M. Razeghi

Fuente: https://hal.archives-ouvertes.fr/



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