Détermination des contraintes résiduelles par diffractométrie X des couches biphasées. Application au cas de la cémentationReportar como inadecuado




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Résumé : L-objectif de ce travail est de déterminer par diffraction des rayons X les contraintes résiduelles dans les deux phases présentes en surface des aciers cémentés : la martensite et l-austénite résiduelle. Une caractérisation fondée sur la diffraction des rayons X quantification de phases, mesures de paramètres de maille, contraintes résiduelles permet d-obtenir des résultats nécessaires à la compréhension de la genèse des contraintes résiduelles de cémentation.





Autor: F. Bloquel L. Barrallier G. Bourse J. Dürr

Fuente: https://hal.archives-ouvertes.fr/



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