Diffraction des rayons X en réflexion sous incidence fixe. Mise en œuvre dun détecteur courbe à localisation CPS 120 InelReportar como inadecuado




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Résumé : Nous avons réalisé un montage de diffraction des rayons X, destiné à la caractérisation d-échantillons plans polycristallins, équipé d-un détecteur courbe à localisation. La géométrie de ce montage conduit à la réalisation de diagrammes de diffraction sous incidence fixe. L-angle d-incidence, réglable au millième de degré, varie d-une dizaine de degrés lorsqu-il s-agit de caractériser des échantillons massifs à quelques centièmes de degré pour l-étude de couches minces. L-objet du travail présenté ici est de montrer que ce montage permet d-obtenir des diagrammes d-une qualité comparable à celle observée en réflexion symétrique Bragg Brentano. Après une analyse du problème spécifique du positionnement de l-échantillon, nous montrons les résultats obtenus sur ce montage en ce qui concerne d-une part la mesure des paramètres de maille sur un échantillon standard international et d-autre part l-affinement structural de type Rietveld d-une zircone monoclinique qui a servi d-echantillon pour une campagne internationale de la commision de diffraction sur poudre. Nous utilisons ensuite cet équipement pour étudier trois problèmes différents de caractérisation des matériaux.





Autor: René Guinebretière Olivier Masson M. Silva A. Fillion J. Surmont A. Dauger

Fuente: https://hal.archives-ouvertes.fr/



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