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1 FRESNEL - Institut FRESNEL

Abstract : To study in a non destructive way absorbing localized defects initiating laser damage in optical components, we implement a microscopy set-up with high spatial resolution and high detectivity, based on photothermal deflection method and combined with a laser damage test set-up.First, optimal configuration is determined thanks to a bibliographical study, a feasibility study and a theoretical comparative study.In other respects, the role of wavelength on absorption of defects is characterized thanks to a study of spectral properties of absorbing and scattering defects in the UV, visible and IR ranges, for substrates and thin films.Then, we present the experimental realization of the new set-up. A sub-micronic spatial resolution is obtained.Finally, this new set-up is applied to the study of gold inclusions of 600 nm embedded in silica. We demonstrate the existence of a -pre-damage- phenomenon: the absorption of inclusions decreases after laser irradiation without any surface alteration.

Résumé : Afin d-étudier de manière non destructive les défauts locaux absorbants précurseurs de l-endommagement laser dans les composants optiques, nous réalisons un dispositif de microscopie haute détectivité et haute résolution, basé sur la déflexion photothermique et couplé à un dispositif d-endommagement laser.La configuration optimale est tout d-abord déterminée par une étude bibliographique, une étude de faisabilité et une étude comparative théorique.Par ailleurs, le rôle de la longueur d-onde est caractérisé par une étude des propriétés spectrales des défauts absorbants et diffusants dans l-UV, le visible et l-IR, pour des substrats et couches minces.Nous présentons ensuite la réalisation expérimentale du dispositif. Une résolution sub-micronique est obtenue.Enfin, nous l-appliquons à l-étude d-inclusions d-or de 600 nm dans la silice. Nous démontrons l-existence d-un phénomène de pré-endommagement: l-absorption de ces inclusions diminue après irradiation sans altération de la surface.

en fr

Keywords : photothermal deflection high resolution microscopy scattering optical thin films laser induced damage precursor defects laser damage threshold

Mots-clés : déflexion photothermique microscopie haute résolution absorption diffusion couches minces optiques endommagement laser défauts précurseurs seuil de tenue au flux UV IR





Autor: Annelise During -

Fuente: https://hal.archives-ouvertes.fr/



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