METHODOLOGIE DE LOCALISATION DES DEFAUTS SOFT DANS LES CIRCUITS INTEGRES MIXTES ET ANALOGIQUES PAR STIMULATION PAR FAISCEAU LASER : ANALYSE DE RESULTATS DES TECHNIQUES DYNAMIQUES PARAMETRIQUESReport as inadecuate




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1 CNES - Centre National d-Etudes Spatiales 2 IMS - Laboratoire de l-intégration, du matériau au système

Abstract : Various electrical parameters are studied when acquired during a laser scan, in order to improve the failure analysis of integrated circuits

Résumé : Ce travail développe l-analyse de différents paramètres électrique obtenu lors de cartographies laser, afin de procéder à une détection de défauts

Mots-clés : analyse laser cartographie fréquences phase





Author: Magdalena Sienkiewicz -

Source: https://hal.archives-ouvertes.fr/



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