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1 LIRMM - Laboratoire d-Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

Abstract : This thesis is devoted to the development of Single Event Upset hardness methodologies dedicated to SRAM based FPGA. SEU may alter the FPGA function through induced errors in the configuration memory. This is the major concern about the use of FPGA in radiation environment. Furthermore they affect the user logic in a similar way than classical integrated circuits.Thanks to restructuration of their transistors arrangement and number, we propose a new inverter and data latch architectures. It allows us to define an SEU proof architecture for user logic hardness. This method is although applicable to harden the configuration memory. However it is area consuming.So we propose a second methodology dedicated to the configuration memory. It is an Error Correction And Detection algorithm based on parity testing.Finally we present the test circuit we designed to validate the restructurating approach.

Résumé : Cette thèse est consacrée à l-étude de solutions de durcissement des circuits reconfigurables à base de SRAM aux effets radiatifs singuliers. Un partitionnement symbolique des FPGA en une couche de configuration et une couche opérative a permis de mettre en évidence et de hiérarchiser les erreurs d-origine radiative. C-est l-éventuelle inversion de bits de configuration qui est le principal facteur limitant l-usage des FPGA en milieu radiatif. Après avoir étudié les solutions actuellement retenues, nous présentons deux approches permettant d-assurer leur durcissement.La première approche est basée sur la restructuration des inverseurs et des éléments de mémorisation au niveau de l-agencement de leurs transistors. Elle permet de durcir efficacement la couche opérative aux effets singuliers. Elle est également adaptée au durcissement de la couche de configuration, mais au prix d-un surcoût en surface important.La deuxième approche repose sur l-utilisation d-un code détecteur et correcteur d-erreurs par test de la parité. Elle est dédiée au durcissement de la couche de configuration.Un circuit test est également présenté afin de valider expérimentalement les principes de durcissement par restructuration que nous avons utilisés.

Mots-clés : Reconfigurable circuit Robust design Single Event Upset EDAC Radiation Hardness Circuits reconfigurables FPGA SRAM Effets Singuliers Durcissement aux radiations Restructuration Conception robuste





Autor: Jean-Max Dutertre -

Fuente: https://hal.archives-ouvertes.fr/



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