Génération de vecteurs de test pour les systèmes analogiques mixtes et RFReportar como inadecuado




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1 LCIS - Laboratoire de Conception et d-Intégration des Systèmes 2 ST-CROLLES - STMicroelectronics Crolles

Résumé : L-augmentation de la complexité des circuits intégrés mixtes et RF rend difficile leur test. Les défauts pouvant apparaître lors de la production de ces circuits sont plus difficilement observables et contrôlables. Plusieurs méthodes de génération de vecteurs de test ont déjà été développées mais présentent des temps de simulation rédhibitoires pour le test de systèmes AMS&RF complexes. Dans notre approche, nous proposons une méthode de génération de vecteurs de test basée sur l-injection et la simulation de fautes modélisées au niveau comportemental.





Autor: Yves Joannon - Vincent Beroulle - Chantal Robach - Smail Tedjini - Jean-Louis Carbonero -

Fuente: https://hal.archives-ouvertes.fr/



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