Remarque sur linfluence de la dispersion dans les systèmes de couches minces diélectriquesReportar como inadecuado




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Résumé : On envisage successivement le cas d-une seule couche mince et celui des miroirs semi-transparents pour interféromètre de Fabry-Perot. On montre comment on peut déterminer l-épaisseur d-une couche mince non absorbante lorsque le facteur de réflexion de celui-ci est maximum et que l-on tient compte de la dispersion. On discute aussi le cas où la couche est utilisée en incidence oblique. Pour les systèmes de couches minces alternées non-absorbantes, on envisage l-influence de la dispersion sur le facteur de réflexion maximum, sur les déphasages par réflexion, sur la variation des déphasages avec la longueur d-onde et sur l-étendue de la zone de réflexion.

Keywords : light interferometers optical films





Autor: F. Abflès

Fuente: https://hal.archives-ouvertes.fr/



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